半导体试验箱—双85试验箱/双85（八五）高高湿温箱
高低温循环、湿冻、湿热（双85）、试验。是主要用与半导体行业（二极管，三极管。电阻），光伏行业的***测试设备，用于测试半导体及光伏组件。最常见的测试条件之一为：-40℃~+85℃ 50~200次，最长1200H)、湿冷冻测试(85℃ 85%~-40℃ 10次，约240H )、湿热测试 (85℃ 85%，1000H)，以确认半导体（（二极管，三极管。电阻））及光伏组件能够承受高温高湿之后随之的负温度影响,以及对于温度重复变化时引起的疲劳和热失效，另外确定半导体器件（（二极管，三极管。电阻））及光伏组件曝露在高湿度下而产生的热应力及能够抵抗湿气长期渗透之能力.其试验设备设计与能力需满足IEC61215、IEC61646 的相关温湿度变化曲线的要求半导体试验箱-双85试验箱满足相关规范：本产品满足IEC61215、IEC 61646、GB/T19394－2003、 GB/T9535－1998、GB/T6492－1986、GB/T6494、GB/T6497、SJ/T2196; IEC61345－1998; IEC61646、GB 10592—89、GB10586－89GB11158,GB10589,GB10592,GB/T10586, GB/T2423.1, GB/T2423.2, GB/T2423.3, GB/T2423.4 GJB150.3, GJB150.4, GJB150.9等相关半导体元器件及光伏组件标准技术规格：产品型号：B-TH-120D内箱尺寸：（W*H*Dcm）45*60*45（另可按客户要求外型尺寸：按客户要求制造）性能参数：1.测试环境条件下：环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下2.测试方法：GB/T 5170.2-1996 温度试验设备/GB/T 5170.5-1996 湿热试验设备（仅湿热型）3.温度范围：负载-40℃→+85℃ /（空载－60℃到150℃）4.温度波动：±0.5℃5.温度分布精度：±2.0℃6.湿度范围：20%～98%R.H7.湿度偏差：±3.0%R.H（＞75%RH )±5.0%R.H（≤75%RH ) 本公司还供应上述产品的同类产品：半导体试验箱：高低温交变湿热试验箱
，冷热冲击试验箱，湿热试验箱、双85试验箱、双85实验箱、湿冻试验箱、湿冷冻试验箱、高温高湿试验箱、PCT试验箱、精密高温试验箱等。
